产品详情

MarSurf XR 20粗糙度测量仪

技术参数:
测量原理:探针测量法
测量范围:±25μm,±250μm,±500μm
轮廓分辨率
分辨率垂直方向:±25μm/0.5nm,±250μm/5nm,±2500μm/50nm
分辨率水平方向:0.07~5μm(按扫描长度而定)
截止波长:0.08mm,0.25mm,0.8mm,2.5mm,8mm
取样长度:1至50(默认值:5)
扫描长度:0.56mm;1.75mm;5.6mm;17.5mm:56mm
测量速度:O.lmm/s和0.5mm/s